Han Z., Shi K., Wang Z., Chen H., Feng F., Wu W., Yan B.-J., Zhao Z.-J.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, fabrication, buffer layers, nanoscaled effects, IBAD process, diffusion process, grain size, roughness, surface oxidation, thickness dependence
Physica C, 2011, v.471, N 21-22, p.770-773
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.